V - Plate-forme Diffraction des Rayons X

Responsable scientifique

Lise-Marie Chamoreau (IR CNRS - IPCM)

La plate-forme technique DRX de la fédération de Chimie Moléculaire de Paris Centre réalise la caractérisation structurale de composés par diffraction des rayons X sur monocristaux.

Nos savoir-faire :

-       Sélection et montage des échantillons, notamment des échantillons fragiles, sous microscope

-       Mesures des données de diffraction sur l’un de nos Diffractomètres

-       Résolution et affinement du modèle structural

Nous pouvons travailler sur une gamme de température allant de 28 et 500 K selon les composés et réaliser des suivis continus de modifications structurales.

Nous réalisons également la détermination de configurations absolues sur des composés purement organiques.

Nous travaillons en étroite collaboration avec la plate-forme diffraction de l’IMPMC pour de nombreuses études.

Pour toute demande d’analyse ou toute question relative à la plateforme, vous pouvez nous contacter :

Lise-Marie Chamoreau (lise-marie.chamoreau @ upmc.fr) 

Tél : 01 44 27 30 90

Geoffrey Gontard (geoffrey.gontard @ upmc.fr)

Tél : 01 44 27 30 90

Jérémy Forté (jeremy.forte @ sorbonne-universite.fr)

Tél : 01 44 27 30 90

Nos équipements :

Diffractomètre Bruker AXS Kappa-APEX II

Système de régulation de température à azote et helium Oxford N-Helix : température de mesure de 28 à 300 K

• Source : tube scellé Molybdène + monochromateur TRIUMPH (cristal courbe de graphite)
• Géométrie : Kappa
• Détecteur : APEX II
• Utilisation : Composés inorganiques et organiques

Diffractomètre Bruker AXS QUAZAR

système de régulation de température à l’azote Oxford Cryostream 700 Plus permettant des mesures sur une gamme allant de 80 à 500 K

• Source : microsource, anode de Cuivre
• Géométrie : Kappa
• Détecteur : APEX II
• Utilisation : composés organiques, détermination de configuration absolue , mailles élémentaires à grands paramètres

 La plate-forme dispose également :

• d’une loupe binoculaire (grossissement x50) avec lumière polarisée et caméra vidéo, pour la sélection et la préparation des échantillons
• de sacs à gants pour la sélection de cristaux sous atmosphère « inerte »

La base de données cristallographique Cambridge Structural Database recensant les structures cristallines des composés contenant au moins une liaison C-H est disponible pour tout utilisateur et nous pouvons vous accompagner dans vos recherches sur cet outil.